 | MA2405 十进制标准电容器MA2405十进制标准电容器，可用于所有应用场合中需要手动选择可变电容器的情况。它全部被电气封装，具有金属外壳和内部保护。本设备包括三个十进制的旋转开关，用于选择电容值，范围从100pF至100nF。 |
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 | TES-1500 数字式电容表精确度 0.5% 过载保险丝保护 使用测棒或直接插入测试均可。 |
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 | HIOKI 3501电容值测试仪/电容表单按键操作 16当量程涵盖了从300 pF到10,000 μF的范围 与一般测量功能不同HIOKI 3501电容值测试仪/电容表，它还能用DC测量电容—无偏差测量极性电容 两种类型连接治具可以处理所有尺寸的电容。 |
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 | 电容测试仪 HIOKI 3504-10最多可分成14 类，能简单地根据测量值进行分类 (仅限于3504) 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 高速测量:测量频率1kHz 时2ms电容测试仪 HIOKI 3504-10， 120Hz 时10ms。 可选定测量电压 触发同步测量 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 C测试仪 3504/电容测试仪 HIOKI 3504不能单独使用，测量时需要选用测试冶具或探头。 |
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 | 电容测试仪 HIOKI 3504最多可分成14 类电容测试仪 HIOKI 3504，能简单地根据测量值进行分类 (仅限于3504) 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断 高速测量:测量频率1kHz 时2ms， 120Hz 时10ms。 可选定测量电压 触发同步测量 封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等 C测试仪 3504/电容测试仪 HIOKI 3504不能单独使用，测量时需要选用测试冶具或探头。 |
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 | C测试仪/电容测试仪HIOKI 3505C测试仪/电容测试仪HIOKI 3505 对应1kHz, 100kHz, 1MHz测试, C测试仪/电容测试仪HIOKI 3505 低容量,高精度,高速测试,C测试仪/电容测试仪HIOKI 3505输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件 |
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 | C测试仪/电容测试仪HIOKI 3506C测试仪/电容测试仪HIOKI 3506 对应1kHz, 1MHz测试, C测试仪/电容测试仪HIOKI 3506和HIOKI 3506相比少了100kHz的测量频率,C测试仪/电容测试仪HIOKI 3506低容量,高精度,高速测试,C测试仪/电容测试仪HIOKI 3505输入用探头/测试夹具，实体不附带。 |
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 | HIOKI 3532-50 LCR测试仪HIOKI 3532-50 LCR测试仪测试频率可在42Hz～5MHz宽广频率量程内以4位精确度自由调整。可很容易地测试被测物在高频量程内的特性。操作非常简便，改变设置时通过触模屏幕，所需的设定选项会顺序排列显示出来。 |
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